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集成電路缺陷?故障和失效是集成電路設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中的重要概念?在研發(fā)階段用探針臺(tái)來(lái)檢測(cè)是比較常見(jiàn)的? ...

光谷薄膜作為探針臺(tái)?冷熱臺(tái)?液氮低溫恒溫器設(shè)備研發(fā)制造商?業(yè)密切關(guān)注著集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展動(dòng)態(tài)?為個(gè)高校 ...

在產(chǎn)業(yè)鏈中?集成電路測(cè)試可分為兩大類別￤集成電路晶圓測(cè)試和集成電路成品測(cè)試?這兩者主要依據(jù)所處的產(chǎn)業(yè) ...

集成電路測(cè)試是驗(yàn)證設(shè)計(jì)?控制工藝?管理生產(chǎn)?保證質(zhì)量?分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)用等的重要手段?集成電路測(cè)試 ...

集成電路測(cè)試原理如圖所示?圖中?待測(cè)電路DUT(Device Under Test)可以是集成電路晶 ...

經(jīng)過(guò)測(cè)試機(jī)?晶圓探針臺(tái)等設(shè)備對(duì)集成電路晶圓測(cè)試后?還有封裝后的集成電路成品測(cè)試?成品測(cè)試工廠是基于成 ...

集成電路產(chǎn)業(yè)鏈?zhǔn)紫葟脑O(shè)計(jì)開(kāi)始?然后是集成電路品圓制造；制造完成的品圓要經(jīng)過(guò)集成電路品圓測(cè)試環(huán)節(jié)后才能 ...

偏光顯微鏡是一種精密的光學(xué)儀器?它運(yùn)用偏振光的原理來(lái)觀察和分析樣品的光學(xué)特性。相較于傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡 ...

拉伸測(cè)試?作為材料力學(xué)的重要評(píng)估手段?旨在揭示材料在拉伸應(yīng)力作用下的行為特性?拉伸冷熱臺(tái)測(cè)試過(guò)程中? ...

在電子器件的研發(fā)?生產(chǎn)與應(yīng)用過(guò)程中，對(duì)其在低溫或變溫環(huán)境下進(jìn)行電性能測(cè)試具有顯著價(jià)值?這些測(cè)試不僅直 ...