集成電路產(chǎn)業(yè)鏈?zhǔn)紫葟脑O(shè)計(jì)開(kāi)始?然后是集成電路品圓制造；制造完成的品圓要經(jīng)過(guò)集成電路品圓測(cè)試環(huán)節(jié)后才能進(jìn)行封裝：封裝完成的電路需要再次經(jīng)過(guò)測(cè)試?并判斷合格后才能進(jìn)入終端客戶應(yīng)用市場(chǎng)?在整個(gè)集成電路產(chǎn)業(yè)鏈中?可以看到集成電路測(cè)試?集成電路成品測(cè)試這兩個(gè)測(cè)試環(huán)節(jié)在其中發(fā)揮著舉足輕重的作用?

圖：集成電路各環(huán)節(jié)產(chǎn)業(yè)鏈

集成電路晶圓測(cè)試?是指專業(yè)的測(cè)試工廠使用先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備(包括測(cè)試機(jī)?探針臺(tái)等)對(duì)集成電路進(jìn)行檢測(cè)?這個(gè)過(guò)程首先需要制作出專門的探針臺(tái)?樣品臺(tái)?然后根據(jù)集成電路設(shè)計(jì)人員提供的產(chǎn)品測(cè)試要求和規(guī)范來(lái)編寫相應(yīng)的測(cè)試程序? 

在這個(gè)過(guò)程中?每一個(gè)集成電路晶圓上的管芯都會(huì)經(jīng)過(guò)功能和性能方面的全面檢測(cè)?通過(guò)對(duì)輸出響應(yīng)和預(yù)期結(jié)果的比較?可以判斷出每個(gè)管芯是否達(dá)到了預(yù)期的標(biāo)準(zhǔn)。如果有任何不符合標(biāo)準(zhǔn)的部分?就可以被標(biāo)記為不合格? 

晶圓測(cè)試探針臺(tái)的主要目的是為了在集成電路封裝進(jìn)入劃片步驟之前?從晶圓上篩選出合格的管芯?同時(shí)?通過(guò)統(tǒng)計(jì)合格率和各類失效的比例?可以更好地理解產(chǎn)品質(zhì)量的情況?此外?還可以確定那些不合格的管芯的位置?以便于進(jìn)一步的分析和改進(jìn)?

總結(jié)起來(lái)?晶圓測(cè)試是保證集成電路質(zhì)量的重要一步?需要用到探針臺(tái)設(shè)備?它有助于提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性?減少由于質(zhì)量問(wèn)題導(dǎo)致的生產(chǎn)風(fēng)險(xiǎn)?進(jìn)而提高整個(gè)產(chǎn)業(yè)鏈的效益?