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2024-10
在材料科學(xué)和電化學(xué)領(lǐng)域?研究材料的電學(xué)性能和潛在應(yīng)用需要了解其在不同溫度下的 C-F 和 C-V 特 ...
10
2024-10
外部調(diào)節(jié)探針臺(tái)是一種用于對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行電性能測(cè)試的重要設(shè)備?它通常由精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)?高性能的探針針 ...
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2024-08
探針臺(tái)在光電行業(yè)中的應(yīng)用主要集中在對(duì)各種光電元件和器件的測(cè)試與分析?光電二極管和探測(cè)器測(cè)試¦用于測(cè)量 ...
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2024-06
在半導(dǎo)體行業(yè)中?芯片探針臺(tái)是一種關(guān)鍵的設(shè)備?它負(fù)責(zé)與芯片上的微小電極端接觸?以便進(jìn)行電氣測(cè)量和數(shù)據(jù)傳 ...
05
2024-05
數(shù)字調(diào)諧系統(tǒng)芯片增加控制線及觀察點(diǎn)的具體做法如下¦1)測(cè)試狀態(tài)的建立根據(jù)該系統(tǒng)上電時(shí)復(fù)位輸入端RES ...
03
2024-05
隨著集成電路規(guī)模的快速增大?集成電路測(cè)試的困難和復(fù)雜度也不斷增加?因此在集成電路設(shè)計(jì)階段就要考慮測(cè)試 ...
28
2024-04
探針臺(tái)基于通路敏化進(jìn)行集成電路測(cè)試碼生成的具體步驟如下¦1?設(shè)置故障效應(yīng)?最常用的故障模型為固定電平 ...
27
2024-04
通過(guò)探針臺(tái)對(duì)固定電平故障檢測(cè)生成測(cè)試碼方法¦固定電平故障¦是指導(dǎo)致電路中某一個(gè)節(jié)點(diǎn)電平為固定值的這一 ...
26
2024-04
通過(guò)探針臺(tái)的集成電路測(cè)試技術(shù)中?測(cè)試碼生成的方式主要有兩種¦基于故障的確定性測(cè)試生成方法和生成符合隨 ...
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2024-04
隨著集成電路設(shè)計(jì)和制造技術(shù)的發(fā)展?一個(gè)集成電路芯片上可能集成了上千萬(wàn)個(gè)甚至更多的元件?由于上面提到的 ...