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2024-10

探針冷熱臺(tái)可對(duì)材料不同溫度下進(jìn)行C-F和C-V測(cè)試

在材料科學(xué)和電化學(xué)領(lǐng)域?研究材料的電學(xué)性能和潛在應(yīng)用需要了解其在不同溫度下的 C-F 和 C-V 特 ...

10

2024-10

外部調(diào)節(jié)探針臺(tái)是一種用于對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行電性能測(cè)試的重要設(shè)備

外部調(diào)節(jié)探針臺(tái)是一種用于對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行電性能測(cè)試的重要設(shè)備?它通常由精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)?高性能的探針針 ...

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2024-08

探針臺(tái)在光電元件和器件的測(cè)試與分析中均有應(yīng)用

探針臺(tái)在光電行業(yè)中的應(yīng)用主要集中在對(duì)各種光電元件和器件的測(cè)試與分析?光電二極管和探測(cè)器測(cè)試¦用于測(cè)量 ...

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2024-06

芯片探針臺(tái)可靠性測(cè)試?確保每一片芯片的穩(wěn)定性

在半導(dǎo)體行業(yè)中?芯片探針臺(tái)是一種關(guān)鍵的設(shè)備?它負(fù)責(zé)與芯片上的微小電極端接觸?以便進(jìn)行電氣測(cè)量和數(shù)據(jù)傳 ...

05

2024-05

探針臺(tái)等設(shè)備在集成電路測(cè)試中增加控制線及觀察點(diǎn)

數(shù)字調(diào)諧系統(tǒng)芯片增加控制線及觀察點(diǎn)的具體做法如下¦1)測(cè)試狀態(tài)的建立根據(jù)該系統(tǒng)上電時(shí)復(fù)位輸入端RES ...

03

2024-05

集成電路可測(cè)性設(shè)計(jì)?也包括簡(jiǎn)化測(cè)試探針臺(tái)等設(shè)備

隨著集成電路規(guī)模的快速增大?集成電路測(cè)試的困難和復(fù)雜度也不斷增加?因此在集成電路設(shè)計(jì)階段就要考慮測(cè)試 ...

28

2024-04

探針臺(tái)通路敏化集成電路測(cè)試碼生成步驟

探針臺(tái)基于通路敏化進(jìn)行集成電路測(cè)試碼生成的具體步驟如下¦1?設(shè)置故障效應(yīng)?最常用的故障模型為固定電平 ...

27

2024-04

通過(guò)探針臺(tái)對(duì)固定電平故障檢測(cè)生成測(cè)試碼方法

通過(guò)探針臺(tái)對(duì)固定電平故障檢測(cè)生成測(cè)試碼方法¦固定電平故障¦是指導(dǎo)致電路中某一個(gè)節(jié)點(diǎn)電平為固定值的這一 ...

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2024-04

探針臺(tái)應(yīng)用¦集成電路測(cè)試碼生成的方法

通過(guò)探針臺(tái)的集成電路測(cè)試技術(shù)中?測(cè)試碼生成的方式主要有兩種¦基于故障的確定性測(cè)試生成方法和生成符合隨 ...

25

2024-04

基于測(cè)試碼生成的探針臺(tái)集成電路測(cè)試技術(shù)

隨著集成電路設(shè)計(jì)和制造技術(shù)的發(fā)展?一個(gè)集成電路芯片上可能集成了上千萬(wàn)個(gè)甚至更多的元件?由于上面提到的 ...

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