數(shù)字調(diào)諧系統(tǒng)芯片增加控制線及觀察點(diǎn)的具體做法如下￤

1)測(cè)試狀態(tài)的建立

根據(jù)該系統(tǒng)上電時(shí)復(fù)位輸入端RESET的狀態(tài)來決定是否進(jìn)入復(fù)位狀態(tài)?test為測(cè)試狀態(tài)控制信號(hào)?上電時(shí)?若RESET-0?則test=1?電路處于測(cè)試狀態(tài)；若RESET=1?則test=0?電路處于正常工作狀態(tài)?rst為系統(tǒng)清零信號(hào)?上電或RESET=0時(shí)?rst-1?系統(tǒng)處于清零狀態(tài)?平時(shí)rst=0,電路正常工作?

2)內(nèi)部測(cè)試控制信號(hào)的產(chǎn)生

芯片處于探針臺(tái)等設(shè)備測(cè)試狀態(tài)時(shí)?由外輸人端來實(shí)現(xiàn)電路內(nèi)部多個(gè)測(cè)試控制狀態(tài)信號(hào)的組合?內(nèi)部測(cè)試狀態(tài)控制信號(hào)?這些信號(hào)用來控制數(shù)字調(diào)諧系統(tǒng)芯片在測(cè)試狀態(tài)下的運(yùn)行情況?

3)內(nèi)部測(cè)試控制信號(hào)控制產(chǎn)生測(cè)試時(shí)序信號(hào)上面產(chǎn)生的內(nèi)部測(cè)試狀態(tài)控制信號(hào)的第一個(gè)作用是產(chǎn)生測(cè)試時(shí)序信號(hào)?這些時(shí)序信號(hào)直接控制指令的外部輸人?ROM內(nèi)容及程序計(jì)數(shù)器(PC)內(nèi)容的輸出檢測(cè)等?測(cè)試數(shù)據(jù)流程?

有了測(cè)試狀態(tài)控制信號(hào)和時(shí)序信號(hào)?測(cè)試工作便可進(jìn)行?寫入RAM的數(shù)據(jù)可以從COM1~COM4四個(gè)輸出端輸出?由于大部分指令執(zhí)行結(jié)果均送入RAM?因此此節(jié)拍可用來檢查每條指令執(zhí)行結(jié)果是否正確?在T2~T4節(jié)拍中?程序計(jì)數(shù)器PC的內(nèi)容在移位脈沖L197作用下分三次從COM1~COM4讀出：T2:PC10~PC7;T3:PC6~PC3;T4:PC2~PC0,最低位補(bǔ)上H?在T5~T8節(jié)拍中?指令分四次(先高位后低位)從COM1~COM4移入ROM輸出移位寄存器?另外?在這些控制信號(hào)作用下?ROM的內(nèi)容也可從COM1~COM4輸出?

4)內(nèi)部測(cè)試控制信號(hào)控制外部信號(hào)輸入

內(nèi)部測(cè)試控制信號(hào)的第二個(gè)作用是控制外部信號(hào)的輸入?這些外部信號(hào)包括測(cè)試時(shí)序主時(shí)鐘?MCU主時(shí)鐘?MCU時(shí)序信號(hào)產(chǎn)生控制信號(hào)?鎖相環(huán)部分的相位比較器fe/fs輸人?條件計(jì)數(shù)器選通脈沖時(shí)鐘輸入等?這些外部輸入信號(hào)的作用是使電路中的測(cè)試部分狀態(tài)翻轉(zhuǎn)?還可加快測(cè)試?

5)內(nèi)部測(cè)試控制信號(hào)控制關(guān)鍵信號(hào)輸出

為了提高探針臺(tái)等設(shè)備對(duì)集成電路可測(cè)性?常常要知道電路內(nèi)部一些關(guān)鍵信號(hào)的狀態(tài)?因此要將這些信號(hào)輸出?例如內(nèi)部MCU時(shí)序信號(hào)?定時(shí)器主時(shí)鐘信號(hào)?晶振停振控制信號(hào)?程控分頻器/參考分頻器輸出等?