電路測(cè)試方法包括模塊劃分?增加控制線及觀察點(diǎn)?消除電路中的冗余邏輯等?下面以實(shí)際電路為例具體介紹兩種方法?

1. 模塊劃分

這種方法將一個(gè)復(fù)雜的電路劃分成若干個(gè)子電路或者模塊?然后通過(guò)一些附加選擇邏輯?在芯片測(cè)試的不同階段將測(cè)試信號(hào)分別選通各個(gè)小模塊?從而提高電路的可測(cè)試性?劃分過(guò)程中通常采用數(shù)據(jù)總線結(jié)構(gòu)和數(shù)據(jù)選擇器進(jìn)行?

在一個(gè)數(shù)字調(diào)諧系統(tǒng)功能框圖中可以清楚地看到?該芯片由CU?I/O口及鎖相環(huán)三大模塊組成?而MCU部分又分成ROM?RAM?指令譯碼器?程序計(jì)數(shù)器堆棧寄存器及ALU等模塊?通過(guò)地址總線和數(shù)據(jù)總線相互連接?對(duì)于這樣的電路劃分?電路的可測(cè)試性可明顯提高?

2. 增加控制線及觀察點(diǎn)

增加控制線和觀察點(diǎn)的目的是使得電路內(nèi)部的狀態(tài)可控與可觀察?

針對(duì)時(shí)序電路單元中的復(fù)位端、置位端、時(shí)鐘信號(hào)等可以設(shè)置控制線?以便根據(jù)測(cè)試需要把該單元設(shè)置到相應(yīng)的狀態(tài)?對(duì)于電路中的一些反饋線也可以設(shè)置控制線?目的是在測(cè)試階段將反饋邏輯斷開(kāi)?

由于一個(gè)集成電路鏈接探針臺(tái)等設(shè)備的外引腳數(shù)量通常是有限的?因此在增加觀察點(diǎn)時(shí)盡量減少外部控制點(diǎn)和觀察點(diǎn)?最大限度地增加內(nèi)部的控制點(diǎn)和觀察點(diǎn)?通過(guò)外引腳的復(fù)用和利用數(shù)據(jù)選擇器等方法可以達(dá)到增加觀察點(diǎn)的目的?