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探針臺(Probe Station)是一種用于對半導體器件進行電性能測試的設備?探針臺是一種用于半導 ...

電路測試方法包括模塊劃分?增加控制線及觀察點?消除電路中的冗余邏輯等?下面以實際電路為例具體介紹兩種 ...

偽窮舉測試是集成電路測試技術中的一種方法?它可以大大減少探針臺等設備總的測試次數(shù)和時間?偽窮舉測試具 ...

探針臺一般會聯(lián)用到一些源表?對測試對象輸入輸出電流電壓?從而達到一些電學測試目的?靜態(tài)電參數(shù)測試對于 ...