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武漢光谷薄膜技術(shù)有限公司整理了不同類型的集成電路都有的一些晶圓常規(guī)測(cè)試項(xiàng)目?以下是這些項(xiàng)目的測(cè)試方法 ...

數(shù)字調(diào)諧系統(tǒng)芯片增加控制線及觀察點(diǎn)的具體做法如下￤1)測(cè)試狀態(tài)的建立根據(jù)該系統(tǒng)上電時(shí)復(fù)位輸入端RES ...

隨著集成電路規(guī)模的快速增大?集成電路測(cè)試的困難和復(fù)雜度也不斷增加?因此在集成電路設(shè)計(jì)階段就要考慮測(cè)試 ...

偽隨機(jī)測(cè)試生成方法是一種測(cè)試方法?它可以生成符合隨機(jī)特征數(shù)據(jù)的測(cè)試圖形?這種方法通常由微處理器的測(cè)試 ...

偽窮舉測(cè)試是集成電路測(cè)試技術(shù)中的一種方法?它可以大大減少探針臺(tái)等設(shè)備總的測(cè)試次數(shù)和時(shí)間?偽窮舉測(cè)試具 ...

探針臺(tái)基于通路敏化進(jìn)行集成電路測(cè)試碼生成的具體步驟如下￤1?設(shè)置故障效應(yīng)?最常用的故障模型為固定電平 ...

通過(guò)探針臺(tái)的集成電路測(cè)試技術(shù)中?測(cè)試碼生成的方式主要有兩種￤基于故障的確定性測(cè)試生成方法和生成符合隨 ...

隨著集成電路設(shè)計(jì)和制造技術(shù)的發(fā)展?一個(gè)集成電路芯片上可能集成了上千萬(wàn)個(gè)甚至更多的元件?由于上面提到的 ...

探針臺(tái)一般會(huì)聯(lián)用到一些源表?對(duì)測(cè)試對(duì)象輸入輸出電流電壓?從而達(dá)到一些電學(xué)測(cè)試目的?靜態(tài)電參數(shù)測(cè)試對(duì)于 ...

在進(jìn)行探針臺(tái)?測(cè)試機(jī)等設(shè)備的電路測(cè)試前?我們需要了解集成電路的基本性能指標(biāo)?特別是電性能和電參數(shù)?它 ...