通過探針臺(tái)的集成電路測(cè)試技術(shù)中?測(cè)試碼生成的方式主要有兩種￤基于故障的確定性測(cè)試生成方法和生成符合隨機(jī)特征數(shù)據(jù)的測(cè)試生成方法?

前文中已經(jīng)提到?如果一個(gè)集成電路未能實(shí)現(xiàn)其全部功能?那么電路中一定存在故障?

反之如果電路中沒有任何故障?那么該電路則必定實(shí)現(xiàn)其預(yù)期設(shè)計(jì)的功能?

因此，人們開始研究電路缺陷?并提出各種故障模型?其中最常用的故障模型為固定電平故障和固定開路故障兩大類?

下面將具體介紹一下固定電平故障以及為檢測(cè)這種故障而進(jìn)行的測(cè)試碼生成的具體方法?

所謂固定電平故障?是指導(dǎo)致電路中某一個(gè)節(jié)點(diǎn)電平為固定值的這一類故障?這是被廣泛采用的故障模型?集成電路中的開路或短路等都可以等效為固定電平故障?

檢測(cè)固定電平故障?即進(jìn)行故障診斷?一般通過對(duì)有限數(shù)目的輸人端和輸出端進(jìn)行測(cè)量來實(shí)現(xiàn)?而對(duì)于集成電路來說?通常利用計(jì)算機(jī)預(yù)先生成一個(gè)確定的測(cè)試碼集?并執(zhí)行測(cè)試程序?這種方法就是預(yù)定向量測(cè)試?

預(yù)定向量測(cè)試故障診斷方法根據(jù)測(cè)試碼生成方法的不同?分為確定性生成?隨機(jī)生成和混合生成三大類?其中確定性生成最為成熟?

確定性測(cè)試碼生成方法又分為通路敏化法?因果函數(shù)法?圖論法和功能驗(yàn)證法等?其中通路敏化法是使故障至少沿一條通路敏化?即適當(dāng)選擇原始輸入值使故障位置的正常信號(hào)值與故障值相反?在故障情況下?隨著此信號(hào)值改變?線路內(nèi)至少應(yīng)有一個(gè)輸出端的值受其影響而改變?即敏化為故障?

對(duì)于一個(gè)給定的故障?通過尋找一個(gè)輸入組合并將之施加到電路輸入端使得故障點(diǎn)產(chǎn)生了預(yù)定的故障效應(yīng)(通過該效應(yīng)?使得電路中某節(jié)點(diǎn)的正常電平與發(fā)生故障時(shí)的不同),并且使得該點(diǎn)到電路的某一個(gè)輸出端之間有一條通路敏化?那么這個(gè)輸入組合就是上述給定故障的一個(gè)測(cè)試碼?