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2024-05
引言在半導(dǎo)體制造過程中?晶圓探針臺是關(guān)鍵的設(shè)備之一?它負(fù)責(zé)將晶圓放置在精密的位置上?以便進(jìn)行電路檢測 ...
05
2024-05
數(shù)字調(diào)諧系統(tǒng)芯片增加控制線及觀察點的具體做法如下¦1)測試狀態(tài)的建立根據(jù)該系統(tǒng)上電時復(fù)位輸入端RES ...
04
2024-05
電路測試方法包括模塊劃分?增加控制線及觀察點?消除電路中的冗余邏輯等?下面以實際電路為例具體介紹兩種 ...
03
2024-05
隨著集成電路規(guī)模的快速增大?集成電路測試的困難和復(fù)雜度也不斷增加?因此在集成電路設(shè)計階段就要考慮測試 ...
02
2024-05
偽隨機(jī)測試生成方法是一種測試方法?它可以生成符合隨機(jī)特征數(shù)據(jù)的測試圖形?這種方法通常由微處理器的測試 ...
01
2024-05
偽窮舉測試是集成電路測試技術(shù)中的一種方法?它可以大大減少探針臺等設(shè)備總的測試次數(shù)和時間?偽窮舉測試具 ...
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2024-04
探針臺主要用于半導(dǎo)體行業(yè)?光電行業(yè)?集成電路以及封裝的測試?它廣泛應(yīng)用于復(fù)雜?高速器件的精密電氣測量 ...
29
2024-04
隨著5G?人工智能?物聯(lián)網(wǎng)等新興技術(shù)的快速發(fā)展?科技智能產(chǎn)品正逐漸滲透到我們的日常生活和工作中?而這 ...
28
2024-04
探針臺基于通路敏化進(jìn)行集成電路測試碼生成的具體步驟如下¦1?設(shè)置故障效應(yīng)?最常用的故障模型為固定電平 ...