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偽窮舉測(cè)試是集成電路測(cè)試技術(shù)中的一種方法?它可以大大減少探針臺(tái)等設(shè)備總的測(cè)試次數(shù)和時(shí)間?偽窮舉測(cè)試具 ...

探針臺(tái)基于通路敏化進(jìn)行集成電路測(cè)試碼生成的具體步驟如下￤1?設(shè)置故障效應(yīng)?最常用的故障模型為固定電平 ...

通過探針臺(tái)的集成電路測(cè)試技術(shù)中?測(cè)試碼生成的方式主要有兩種￤基于故障的確定性測(cè)試生成方法和生成符合隨 ...

隨著集成電路設(shè)計(jì)和制造技術(shù)的發(fā)展?一個(gè)集成電路芯片上可能集成了上千萬個(gè)甚至更多的元件?由于上面提到的 ...

探針臺(tái)一般會(huì)聯(lián)用到一些源表?對(duì)測(cè)試對(duì)象輸入輸出電流電壓?從而達(dá)到一些電學(xué)測(cè)試目的?靜態(tài)電參數(shù)測(cè)試對(duì)于 ...

在進(jìn)行探針臺(tái)?測(cè)試機(jī)等設(shè)備的電路測(cè)試前?我們需要了解集成電路的基本性能指標(biāo)?特別是電性能和電參數(shù)?它 ...

對(duì)于集成電路晶圓測(cè)試來說?通常要經(jīng)過以下幾個(gè)工藝步驟￤1.合格晶圓接收；2.晶圓烘焙；3.晶圓測(cè)試； ...

集成電路測(cè)試系統(tǒng)在執(zhí)行過程中?通過以下幾個(gè)步驟來得出測(cè)試結(jié)果￤1?測(cè)量值記錄方法通過探針臺(tái)等測(cè)試收到 ...

集成電路的性能和特性主要受到電路設(shè)計(jì)和制造工藝的影響?同時(shí)也與電路的工作條件?如電源電壓?環(huán)境溫度等 ...

集成電路缺陷?故障和失效是集成電路設(shè)計(jì)和制造過程中的重要概念?在研發(fā)階段用探針臺(tái)來檢測(cè)是比較常見的? ...