掃描電鏡冷熱臺(tái)（簡稱“SEM冷熱臺(tái)”）是一種安裝在掃描電鏡（SEM）上研究樣品原位變溫顯微結(jié)構(gòu)的配件設(shè)備? 無需改造電鏡內(nèi)部結(jié)構(gòu)?通過定制外接裝置 ? 操作溫控系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)對(duì)冷熱臺(tái)上樣品的溫度?產(chǎn)品采用液氮致冷?電阻加熱的方式?提供-190~200℃或RT~1500℃的變溫環(huán)境?

光學(xué)冷熱臺(tái)是一款針對(duì)研究材料變溫光學(xué)性能測試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品?可表征材料光學(xué)性能隨溫度變化的特征?產(chǎn)品采用液氮致冷?電阻加熱的方式?實(shí)現(xiàn)-190~600℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制?與其他光學(xué)設(shè)備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成?進(jìn)行變溫原位測試?

光學(xué)熱臺(tái)可表征材料光學(xué)性能隨溫度變化的特性?產(chǎn)品采用電阻加熱的方式?實(shí)現(xiàn)RT~1600℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制?與其他光學(xué)設(shè)備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成?進(jìn)行變溫原位測試?

顯微鏡冷熱臺(tái)是一款針對(duì)研究材料變溫光學(xué)性能測試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品?可表征材料光學(xué)性能隨溫度變化的特征?采用液氮制冷?電阻加熱的方式?實(shí)現(xiàn)-190℃~600℃或RT~1200℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制?與其他光學(xué)設(shè)備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成?進(jìn)行變溫原位測試?根據(jù)需要?還可以選型光反射或光透射模式?

電學(xué)冷熱臺(tái)是一款針對(duì)研究材料變溫電學(xué)性能測試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品?可表征材料電學(xué)性能隨溫度變化的特征?該產(chǎn)品采用電阻加熱的方式?實(shí)現(xiàn)RT~600℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制?與其他電學(xué)儀表（如電橋?源表?萬用表等）搭配集成?進(jìn)行變溫原位測試?

電學(xué)熱臺(tái)是一款針對(duì)材料變溫測試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，產(chǎn)品尺寸小巧?使用便捷?可進(jìn)行光學(xué)?電學(xué)測試?采用電阻加熱的方式?實(shí)現(xiàn)RT ~200℃范圍內(nèi)控溫?與其他光學(xué)?電學(xué)儀器組合搭配?進(jìn)行變溫原位測試?

探針冷熱臺(tái)可表征材料電學(xué)性能隨溫度變化的特征?產(chǎn)品采用液氮致冷?電阻加熱的方式?實(shí)現(xiàn)-190~600℃或RT~1600℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制?與其他電學(xué)儀表（如電橋?源表?萬用表）搭配集成?進(jìn)行變溫原位測試?搭配探針實(shí)現(xiàn)變溫電學(xué)測試?

半導(dǎo)體冷熱臺(tái)又稱帕爾貼冷熱臺(tái)?利用半導(dǎo)體的熱-電效應(yīng)制冷?配合循環(huán)水散熱?在-30~150℃的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行控溫?實(shí)現(xiàn)材料在開放式/氣密/真空環(huán)境下的變溫光學(xué)?電學(xué)等測試?產(chǎn)品無需液氮致冷耗材?具有無噪聲?無振動(dòng)?體積小?重量輕等特點(diǎn)?支持與各類顯微鏡?光譜儀等光學(xué)儀器設(shè)備聯(lián)用?可以實(shí)現(xiàn)變溫光學(xué)測試?或者選配探針實(shí)現(xiàn)變溫電學(xué)測試?

原位拉伸冷熱臺(tái)采用液氮致冷?電阻加熱的方式?實(shí)現(xiàn)-190~600℃溫度下材料的動(dòng)態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測試?可與顯微分析?電學(xué)分析相結(jié)合?

原位SEM拉伸冷熱臺(tái)是一款在掃描電鏡下研究材料在變溫條件下進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測試的產(chǎn)品。原位拉伸模塊可以設(shè)定恒力或恒速方式進(jìn)行拉伸?壓縮?或者按程序段進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng)?產(chǎn)品采用液氮致冷?電阻加熱的方式?實(shí)現(xiàn)-190~200℃或RT~ 1500℃溫度下材料的動(dòng)態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測試，可與顯微分析?電學(xué)分析相結(jié)合?

拉伸試驗(yàn)機(jī)冷熱臺(tái)一種安裝在萬能試驗(yàn)機(jī)上研究材料在變溫條件下進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測試的產(chǎn)品? 產(chǎn)品采用液氮致冷?電阻加熱的方式?實(shí)現(xiàn)-190~600℃或RT~ 1500℃溫度下材料的動(dòng)態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測試?可選DIC?視頻引伸計(jì)實(shí)現(xiàn)應(yīng)變數(shù)據(jù)的高精度采集?

原位XRD冷熱臺(tái)是一種安裝在X-射線衍射儀上研究材料變溫X-射線衍射的配件儀器?原位XRD冷熱臺(tái)與各種X-射線衍射儀適配集成產(chǎn)品采用液氮致冷?電阻加熱的方式?提供-190~600℃或RT~ 1500℃溫度范圍內(nèi)的氣氛/真空測試環(huán)境?支持在各種X-射線衍射儀上定制樣品臺(tái)進(jìn)行適配?

原位電池冷熱臺(tái)針對(duì)電化學(xué)電池研究?設(shè)計(jì)的多款原位測試裝置? 可實(shí)現(xiàn)原位XRD測試?光學(xué)測試等?同時(shí)可提供提-190~600℃變溫環(huán)境；與其他光學(xué)設(shè)備（如顯微鏡等）搭配集成?進(jìn)行變溫光學(xué)原位測試?