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學(xué)術(shù)知識

什么是RTP?什么是RTA?

首先說結(jié)論,RTPRapid Thermal Processing是所有快速熱處理的統(tǒng)稱但不限于

RTA(快速熱退火)、RTO(快速熱氧化)、 RTN(快速熱氮化)、合金化... ...

 

RTPRTA、RTO、RTN之間的聯(lián)系

 

RTP設(shè)備通過精確控制溫度-時間曲線,實現(xiàn)對材料結(jié)構(gòu)、界面特性或雜質(zhì)分布的調(diào)控。我們常說的RTP快速退火爐,就是根據(jù)需要,通過軟件控制設(shè)置,可實現(xiàn)多種工藝模式。如RTA工藝,通過快速升降溫,在極短時間內(nèi)(幾秒至幾十秒)完成特定退火目的。又或者在O2N2等氣體氛圍下,通過多階段升降溫以及長時間恒溫,實現(xiàn)RTO、RTN等熱處理工藝。

 

RTPRTA對比

對比項

RTP

RTA

應(yīng)用場景

涵蓋廣泛的熱處理工藝:
氧化(形成 SiO?薄膜)
氮化(形成 Si3N4)
合金化(金屬-半導(dǎo)體接觸)
多晶硅再結(jié)晶

主要用于退火
離子注入后的損傷修復(fù)
摻雜劑激活
硅化物形成(如 NiSi、CoSi?)

溫度曲線

溫度曲線更靈活
多階段升溫/降溫
長時間恒溫(如氧化工藝需幾分鐘)
特定溫度波形(如脈沖加熱)

典型的“尖峰”曲線
快速升溫至目標(biāo)溫度(如 1000~1100℃)
保持幾秒至幾十秒
快速降溫

工藝目的

強調(diào)材料改性或薄膜形成
通過高溫氧化硅表面形成高質(zhì)量 SiO?
金屬與硅反應(yīng)形成低電阻硅化物

強調(diào)雜質(zhì)激活和晶格修復(fù),最小化擴散
將注入的B、P等雜質(zhì)原子激活到晶格位置
消除注入引起的非晶層

典型工藝

幾秒至幾分鐘(如氧化工藝要1-5分鐘)

幾秒至幾十秒(如1050℃保持10秒)

 

RTPRTA案例對比

案例對比

RTP

RTA

應(yīng)用場景

FinFET工藝
通過RTP在硅表面形成超薄(1~3nm)高質(zhì)量 SiO?柵介質(zhì)

CMOS制造工藝
注入B?形成P型源漏區(qū)
通過RTA激活B原子并修復(fù)晶格

工藝參數(shù)

O?氣氛
900℃保持60秒
形成2nm厚SiO?。

升溫速率100℃/秒
1050℃保持5秒
降溫速率50℃/秒

工藝目的

精確控制氧化層厚度
避免高溫導(dǎo)致的Fin結(jié)構(gòu)變形

使B原子替代Si晶格位置
激活率>90%
同時限制B擴散(結(jié)深<50nm)

 

總結(jié)

RTA(快速熱退火)和 RTP(快速熱處理)是半導(dǎo)體制造中常用的熱處理工藝技術(shù),兩者核心原理相同,但在應(yīng)用場景、溫度曲線、工藝目的上存在差異。

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