測(cè)試案例

中科院化學(xué)所測(cè)試導(dǎo)電高分子薄膜樣品Seebeck系數(shù)和電阻率數(shù)據(jù)

日期： 02-28 16:31

中科院化學(xué)所購(gòu)買薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)MRS-3，測(cè)試導(dǎo)電高分子薄膜樣品Seebeck系數(shù)和電阻率數(shù)據(jù)

測(cè)試導(dǎo)電高分子薄膜樣品Seebeck系數(shù)和電阻率數(shù)據(jù)

上一個(gè)：太原理工測(cè)試MgSi樣品Seebeck系數(shù)和電阻率數(shù)據(jù) 下一個(gè)：中科院上海微系統(tǒng)所測(cè)試SiO2薄膜樣品熱導(dǎo)數(shù)據(jù)

全國(guó)咨詢熱線24 hours service hotline

15629038374

027-86645269

網(wǎng)站首頁(yè)關(guān)于我們產(chǎn)品中心測(cè)試中心新聞動(dòng)態(tài)服務(wù)支持聯(lián)系我們產(chǎn)品百科 Sitemap

武漢光谷薄膜技術(shù)有限公司版權(quán)所有
地址：湖北省武漢市東湖新技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)光谷三路777號(hào)C1-1綜合保稅區(qū)一期01號(hào)標(biāo)準(zhǔn)廠房5層北面部分區(qū)域01室
手機(jī)：15629038374?微信：電話：027-86645269
武漢光谷薄膜技術(shù)有限公司鄂ICP備2024045272號(hào)-1