上一章光谷薄膜說完了內建自測試技術?其實集成電路自測特征分析通常作為多種測試方法的補充?涵蓋電路內部和功能方面的測試?同時還應用于數(shù)據(jù)壓縮技術?它并非一種獨立的測試技術?而是與其他測試方法相結合?數(shù)據(jù)壓縮是在特征分析器中實現(xiàn)的，通過在電路控制的時序窗口內?對每個電路時鐘周期進行采樣?將作為數(shù)據(jù)輸入的邏輯測試點?特征分析器內通常有一個16位反饋移位寄存器?根據(jù)之前與數(shù)據(jù)相關的寄存器反饋條件?數(shù)據(jù)可以以真值的補碼形式進入?

在一個測試窗口中?一個16位寄存器總共有65536種可能的狀態(tài)?這些狀態(tài)經(jīng)編碼后以4位十六進制數(shù)表示?即“特征”?每個“特征”代表一個特定電路節(jié)點在指定測試間隔中與時間相關的邏輯行為?任何該特定電路節(jié)點行為上的改變都會產(chǎn)生一個新的“特征”?用于指示可能的不正常電路功能?因此?一個節(jié)點上的邏輯狀態(tài)改變需要產(chǎn)生一個有意義的“特征”?根據(jù)所選擇的壓縮算法?超過65536個時鐘周期的測試間隔還可以產(chǎn)生有效的重復“特征”?

在開始?結束以及時鐘信號有效時?串行數(shù)據(jù)會進入該寄存器?只要對該移位寄存器產(chǎn)生了足夠多的測試圖形?剩余部分就能唯一地定義節(jié)點的狀態(tài)和時間信息?

集成電路自測特征分析具有以下優(yōu)點：高速測試；快速生成程序；大量響應數(shù)據(jù)可壓縮；適用于大規(guī)模生產(chǎn)測試?然而?特征分析也存在一些應用限制：在進行可測性設計時必須非常仔細考慮；在反饋循環(huán)和總線結構中?診斷方法較少?

本次光谷薄膜關于內建自測試技術就到這里了?后面我們會繼續(xù)分析集成電路測試相關內容?感謝大家關注！